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簡要描述:Park NX7原子力顯微鏡 配有Park原子力顯微鏡前沿技術(shù),其設(shè)計與新型顯微鏡一樣彰顯細(xì)節(jié)品質(zhì),可以有效助您取得精準(zhǔn)的研究成果。
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Park NX7原子力顯微鏡配有Park原子力顯微鏡前沿技術(shù),其設(shè)計與新型顯微鏡一樣彰顯細(xì)節(jié)品質(zhì),可以有效助您取得精準(zhǔn)的研究成果。
ü 獨(dú)立閉環(huán)XY和Z柔性掃描器
ü 正交XY掃描
ü 樣品表面形貌信息測量精準(zhǔn),無需軟件處理
ü 涵蓋多種掃描探針顯微鏡的掃描模式
ü 更智能的NX電子控制器默認(rèn)啟用高級納米機(jī)械測量模式
ü 擁有業(yè)界前沿的兼容性和可升級性
ü 方便樣品或換針的開放式使用
ü 預(yù)對準(zhǔn)的探針夾設(shè)計,可輕易直觀的進(jìn)行SLD光校準(zhǔn)
ü Park SmrtScanTM - 原子力顯微鏡操作軟件可以幫助初次使用用戶和專業(yè)用戶進(jìn) 行專業(yè)的納米級研究。
Park的核心技術(shù)在于專有的掃描器架構(gòu)?;讵?dú)立XY掃描器和Z掃描器設(shè)計的撓曲結(jié)構(gòu),能讓您輕松獲得高精度納米級分辨率數(shù)據(jù)。
Park AFM 配備了低噪聲Z探測器,噪音水平低于0.02 nm,因而達(dá)到了樣品形貌成像精準(zhǔn),沒有邊沿過沖無需校準(zhǔn)的高效率。Park NX系列不僅為您提供高精準(zhǔn)的數(shù)據(jù),更為您大大節(jié)省了時間成本。
ü 利用低噪聲Z探測器信號進(jìn)行形貌成像
ü 有高寬帶,Z探測器低噪聲只有0.02 nm
ü 邊緣位置無前沿或后沿過沖現(xiàn)象
ü 只需在原廠校準(zhǔn)一次
樣品: 1.2 μm標(biāo)準(zhǔn)臺階高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)
柔性引導(dǎo)高推動力掃描器
Z掃描范圍: 15 μm (30 μm可選)
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍: 50 µm × 50 µm
(可選 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)
Z位移臺行程范圍: 26 mm
XY位移臺行程范圍: 13 mm X 13 mm
樣品大小 : up to 50 mm
樣品厚度: up to 20 mm
AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集軟件
智能模式的快速設(shè)置和簡易成像
手動模式的高級使用和更精密的掃描控制
AFM數(shù)據(jù)分析軟件
獨(dú)立設(shè)計—可以安裝和分析AFM以外的數(shù)據(jù)
能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制
產(chǎn)品咨詢
傳真:
郵箱:frank_li@hengzelab.com
地址:上海市浦東新區(qū)宣秋路139號1號樓208室